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A.李昆忠教授之榮譽、獎勵及會議主席

2022: Program Chair, IEEE International Test Conference.

2021~present: Steering Committee member, IEEE International Test Conference

2021: Best paper award, VLSI Test Technology Workshop

2021: Vice Program Chair, IEEE International Test Conference.

2020: Nomination & Appointments chair, IEEE Tainan Section

2019~2020: IEEE International Test Conference (ITC), track chair.

2019: 科技部未來科技突破奬

2019: Best paper award, VLSI Test Technology Workshop

2017: Outstanding Technical Achievement Award, IEEE Tainan Section

2017: Best paper award, IEEE International Test Conference in Asia

2017: IEEE Fellow 2017 "For contributions to low-cost testing of digital VLSI circuits

2017: IEEE International Test Conference in Asia 大會主席

2014~2016: 亞洲測試會議指導委員會主席

2013-2014: 智慧電子國家型計畫科技部工程司召集人

● 2013: IEEE Workshop on RTL Testing大會主席.

2013: 李昆忠教授主持之「具易測試及除錯特性之智慧型低功率多核心系統之設計技術。研發:從電子系統層級至矽晶片層級」之整合型計劃 (2010/8-2013/7)

 (研究團隊包含成功大學電機系郭致宏教授、張順志教授、陳中和教授、邱瀝毅教授、林家民教授、蔡建泓教授)榮獲102年度 科技部整合型計劃「績優計畫獎」

● 2011: NSOC 國家型計畫專案召集人.2011-present.

● 2010~2013: 亞洲測試會議指導委員會副主席.

● 2010: IEEE Internatinal Symposium on VLSI-DAT Symposium大會共同主席

2009: IEEE International Symposium on VLSI-DAT會議議程主席

● 2009: IEEE International Symposium on Circuits & Systems會議課程主席.

2008: VLSI Test Technology Workshop大會主席.

2008: 台灣積體電路設計學會理事長 (TICD).

2008: 國立成功大學晶片系統研發中心主任 Director, SoC Research Center (Soc),2008-present.

2007: 李昆忠教授主持之「晶片系統測試平台之設計與自動化」之整合型計劃 (2004-2007)

(研究團隊包含成功大學電機系陳中和 教授、謝明得教授、張順志教授)榮獲96年度國科會 整合型計劃「績優計畫獎」,為全國唯一獲此殊榮之晶片系統國家型科技計畫.

2007: 國家實驗研究院 傑出科技貢獻獎科技服務類(團體) 多計畫系統單晶片設計服務 雪山獎.

2006-2008:台灣系統晶片設計推動聯盟ESL工作小組副召集人

2005/8-2006/12: VLSI教改計畫ESL課程開發計畫主持人

2005-2006: IEEE Circuits & Systems Tainan Chapter Chairman

2005 : Founder, IEEE Tainan Chapter, Circuits & Systems Society

2004-2005: 台灣積體電路設計學會副理事長

2004: 特邀主編 (Guest Editor). Int'l Journal of Electrical Engineering, Special Issue on APCCAS 2004. Feb. 2006. 

2004: IEEE 亞洲測試會議會議大會主席.  

2004: VLSI教改計畫S&IP聯盟召集人

2002-2003: VLSI教改計畫DIP聯盟執行秘書.

2002-2003: 國科會研究計畫獎助.

2002: 全國VLSI/CAD Symposium大會主席.

2002: 國科會大專學生研究創作奬.

● 2002: 特邀主編 (Guest Editor).Journal of Electronic Testing: Theory and Applications (JETTA), Special Issue on ATS 2000, February, 2002.

● 2001: IEEE Computer Society, Asian Test Symposium, Certificate of Appreciation.

2000: IEEE亞洲測試會議議程主席.

2000: 特邀主編 (Guest Editor).Journal of Information Science & Engineering (JISE), Special Issue on VLSI Testing, October, 2000.

1999: 教育部VLSI與系統設計教育改進計劃 特優

1994: HD-Media Technology and Applications Workshop, Best paper award.

1991-2002: 國科會甲種研究獎.



B. 指導學生之特殊榮譽

2021: 指導學生黃柏華、黃柏豪、陳翔宇參加LINE Chatbot 對話機器人設計大賽冠軍 ( 官方公布參賽隊伍數:  60).

2021: 指導學生黃柏華、陳翔宇參加中華電信5G創新應用大賽亞軍 (官方公布參賽隊伍數: 225).

2020: 指導學生胡峻銘獲聯詠科技碩士班奬學金

2020: 指導學生呂正耀、黃毓斌獲TSRI IC設計競賽佳作

2019: 指導學生劉晴安獲2019聯發科技「智在家鄉」競賽首獎 (官方公布參賽隊伍數:  360).

2017: 指導學生洪碩聯獲亞洲測試會議最佳論文獎

● 2017: 吳政鴻獲國科會千里馬計畫獎學金(赴美國愛荷華大學研究十二個月)

● 2016: 蕭崇閔、連唯証榮獲IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT) 最佳論文獎

● 2016: 吳政鴻榮獲超大型積體電路設計暨計算機輔助設計技術研討會(VLSI DESIGN/CAD)最佳論文獎

● 2015: 連唯証榮獲台灣電機工程研究所(TIEEE)最佳博士論文獎

● 2015: 連唯証榮獲亞洲測試會議(ATS)最佳博士論文獎

● 2015: 吳政鴻榮獲超大型積體電路設計暨計算機輔助設計技術研討會(VLSI DESIGN/CAD)最佳論文獎

● 2015: 連唯証榮獲台灣積體電路設計學會(Taiwan IC Design Society )最佳博士論文

● 2015: 吳政鴻、王聖澤榮獲超大型積體電路測試技術研討會(VLSI Test Technology Workshop)最佳論文獎

● 2015: 吳政鴻獲台積電博士班獎學金

● 2014: 吳政鴻獲台積電博士班獎學金

● 2013: 連唯証獲國科會千里馬計畫獎學金(赴美國杜克大學研究十二個月)

● 2013: 張欽堯、林倬民、留國凱、吳承融:《高效能之系統單晶片除錯平台》榮獲第十三屆旺宏金矽獎 - 金獎

● 2012: 連唯証獲聯發科技獎學金

● 2012: 連唯証、謝東佑榮獲超大型積體電路測試技術研討會(VLSI Test Technology Workshop)最佳論文獎

● 2012: 連唯証、謝東佑榮獲國際超大型積體電路設計、自動化暨測試研討會(VLSI-DAT)最佳論文獎

● 2011: 連唯証、謝東佑、簡士勛榮獲超大型積體電路設計暨計算機輔助設計技術研討會(VLSI DESIGN/CAD)最佳論文獎 (本次會議投稿論文共有231篇,僅3篇論文獎)

2010: 謝東佑榮獲IEEE台南分會最佳博士論文獎

2009: 謝東佑榮獲國立成功大學優秀青年代表

● 2008: 謝東佑獲國科會千里馬計畫獎學金(赴南加州大學研究十個月)

2007: 謝東佑榮獲中技社科技研究獎學金

● 2006: 謝東佑、郭明典、張欽堯、尤建智 第六屆旺宏金矽獎設計組優等

● 2006: 許宏銘 第六屆旺宏金矽獎設計組優等

● 2005: 沈聖智 臺灣積體電路設計學會博碩士論文獎

● 2004: 謝東佑 中國工程師學會 優秀工程學生獎學金

● 2004: 謝東佑 國科會大專學生參與專題研究計畫 研究創作獎

● 2004: 謝東佑 參加全國論文比賽 優等

● 2004: 謝東佑 參加成功大學校內論文比賽 第三名

● 2003: 方建偉、謝東佑、許宏銘參加教育部主辦全國CAD競賽 定題組 佳作

● 2003: 沈聖智 參加大專生參與專題研究計畫研究創作獎獲獎

● 2003: 黃博冠 參加大專生參與專題研究計畫研究創作獎獲獎

● 2002: 洪忻煒 參加教育部主辦全國CAD設計競賽入選

● 2001: 黃正儀、曾裕淵 參加教育部主辦全國IC設計競賽 佳作

● 2000: 胡文軒 參加教育部主辦全國IP設計競賽 FPGA組優等

● 2000: 陳朝義、莊賀傑 參加教育部主辦全國IC設計競賽 佳作

● 2000: 黃正儀、胡文軒 參加教育部主辦全國IC設計競賽 佳作

● 2000: 黃正儀 參加教育部主辦全國CAD競賽 不定題組 優等

● 2000: 洪郁庭 參加教育部主辦全國CAD競賽 定題組 特優

● 1999: 黃正儀、胡文軒 參加教育部主辦全國IC設計競賽 佳作



C. 李昆忠教授參與之
國際活動或議程委員

1984~present: IEEE Member

2014~2016: IEEE Senior Member 

2017~present: IEEE fellow

2000~present: Steering Committee member, Asian Test Symposium

2008: Tutorial Chair, Int’l Symp. on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT)

2008~2019: Board member, IEEE Tainan Section

2009~Present: Executive Committee Member, Int’l Symp. on VLSI-DAT

2014~present: Steering Committee member, Workshop on RTL and High-Level Testing (WRTLT)

2017~present: Chairman of Steering Committee, IEEE International Test Conference in Asia.

2000~present: Steering Committee member, IEEE Asian Test Symposium

2008~2019: Board member, IEEE Tainan Section

Program Committee member for ITC, VTS, DATE, ATS, ASP-DAC, VLSI-DAT, MTDT, AP-ASIC, TENCON

Conference paper reviewer for ITC, VTS, DATE, ATS, DAC, ICCAD, VLSI-DAT, FTCS, AP-ASIC, ASPDAC, ISPACS, MTDT, SOCC, TENCON, VLSI-TSA

Journal reviewer for T-CAD, T-VLSI, T-Computers, T-CAS, Design & Test of Computers

2012~2015: Program committee member, IEEE Design, Automation and Test in Europe (DATE)

2012~2020: Program committee member, IEEE Asian Test Symposium (ATS)

2014, 2017~2020: Program committee member, IEEE International Test Conference (ITC)

2015~2017: Program committee member, IEEE Workshop on RTL and High-Level Testing (WRTLT)

 

 

 

 

 

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